TDK角度传感器

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TDK角度传感器产品特性

TDK角度传感器通过测量磁场的正弦和余弦分量来捕获磁场矢量。来自TDK-Micronas的新3D HAL技术使其成为可能。垂直霍尔板测量芯片平面上的磁场分量，而不测量垂直于芯片表面的分量。这种传感器直接通过与测量的角度或位置成比例的输出信号提供角度和位置信息。 HAL 37xy系列传感器可以测量BX、BY和BZ三个磁场分量。这为位置检测提供了一套潜在的应用，例如宽度距离、角度或贯穿轴角测量。芯片上信号处理计算出两个磁场分量的角度，并将该值转换为输出信号。传感器在规定的温度范围内表现出优异的漂移性能，从而为角度或线性测量提供了一种新级别的精度。传感器具有任意可编程步进线性特性，用于输出信号的线性化。

应用指南

主要特性可以通过对非易失性存储器进行编程来调整到磁路上。 传感器包含先进的机载诊断功能，这会加强故障安全检测.该装置是为汽车和工业用途而设计的。 HAC 37xy的特点是用于改善电磁兼容性(EMC)和无PCB用途的集成电容器。HAR 37 xy是HAL 37 xy系列的双模具版本。每个传感器提供真正的冗余，因为它由两个堆叠在一个封装中独立的模具构成。堆叠模结构保证了两个模具都能检测到相同的磁场位置，从而产生同步测量输出